【3980円以上送料無料】高分子分析技術最前線／高分子学会　編集

出版社共立出版発売日2007年12月ISBN9784320043794ページ数179Pキーワードこうぶんしぶんせきぎじゆつさいぜんせんこうぶんしせ コウブンシブンセキギジユツサイゼンセンコウブンシセ こうぶんし がつかい コウブンシ ガツカイ9784320043794内容紹介新しい材料は、新しい技術や分析法を要求します。ナノテクノロジー
・ナノサイエンスの著しい発展は、物質の構造や性質を原子
・分子レベルで解明
・理解する分析技術の急速な展開をもたらしており、高分子材料の設計、評価や作製、加工においても先端の分析技術が要求されています。走査プローブ顕微鏡、三次元透過型電子顕微鏡や共焦点レーザー顕微鏡、表面プラズモン顕微鏡などの多様な顕微鏡分析法、MALDI-MS/MSやTOF-SIMSなどの化学分析法、放射光や中性子小角散乱法など、21世紀初頭にかけて急速に展開した分析技術を中心に高分子分析の最前線を紹介します。

※本データはこの商品が発売された時点の情報です。目次第1部 微小構造の顕微鏡観察（三次元透過型電子顕微鏡—ネットワークナノ構造の三次元可視化/走査フォース顕微鏡—表面ナノ構造と物性をみる手法/表面プラズモン共鳴分光法および顕微鏡—局所場による高感度光計測/近接場光学顕微鏡—光でみるナノの世界/共焦点レーザー顕微鏡—光学顕微鏡による三次元構造観察）/第2部 微小構造の間接的観察（放射光を用いた観察法—微細
・微小
・迅速
・in situ測定を目指して/中性子小角散乱法—生きたままをみる分析技術/陽電子消滅法—自由体積空孔サイズの測定）/第3部 分子構造の解析（固体NMR—固体でここまでわかる精密測定/TOF‐SIMS—サブミクロン領域からの分子構造情報/MALDI‐MS／MS—質量測定を越えた微細化学構造解析/赤外円二色性スペクトル—紫外
・可視発色団を必要としない新しいキラル分析法）