半導体技術 下(物理工学実験 3)/ 庄野 克房 (著) /東京大学出版会
商品説明
・本の形態：単行本ソフトカバー
・サイズ：21×15cm
・ページ数：274p
・発行年：1987年7月30日(第6刷)
・初版年：1976年5月17日
・ISBN ： 9784130630238
◆本の状態：非常に良い。
・サイズ：21×15cm
・ページ数：274p
・発行年：1987年7月30日(第6刷)
・初版年：1976年5月17日
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